Het gebruik van testapparatuur voor halfgeleiders loopt als een rode draad door het gehele productieproces en speelt een cruciale rol in kostenbeheersing en kwaliteitsborging binnen de halfgeleiderindustrie.
Halfgeleiderchips doorlopen drie fasen: ontwerp, productie en afdichtingstest. Volgens de "tienvoudige regel" voor foutdetectie in elektronische systemen moeten chipfabrikanten, als ze defecte chips niet tijdig opsporen, tien keer zoveel geld uitgeven in de volgende fase om de defecte chips te controleren en te repareren.
Bovendien kunnen chipfabrikanten door middel van tijdige en effectieve tests chips of apparaten met verschillende prestatieniveaus op een verantwoorde manier selecteren.
Halfgeleider testsonde
Testprobes voor halfgeleiders worden voornamelijk gebruikt bij de verificatie van chipontwerpen, het testen van wafers en het testen van eindproducten van halfgeleiders, en vormen de kerncomponenten gedurende het gehele chipproductieproces.
De testsonde bestaat doorgaans uit vier basisonderdelen: de naaldkop, de naaldstaart, de veer en de buitenbuis. Deze onderdelen worden met precisie-instrumenten aan elkaar geklonken en voorgeperst. Omdat halfgeleiderproducten zeer klein zijn, zijn de eisen aan de afmetingen van de sondes strenger en kunnen ze zelfs op micronniveau liggen.
De meetsonde wordt gebruikt voor de nauwkeurige verbinding tussen de wafer-/chip-pin of soldeerbal en de testmachine om de signaaloverdracht te realiseren waarmee de geleidbaarheid, stroomsterkte, functie, veroudering en andere prestatie-indicatoren van het product worden gemeten.
Of de structuur van de geproduceerde meetsonde redelijk is, of de maatafwijking acceptabel is, of de naaldpunt is afgebogen, of de isolatielaag aan de buitenkant compleet is, enzovoort, heeft direct invloed op de testnauwkeurigheid van de sonde en daarmee op het test- en verificatie-effect van halfgeleiderchips.
Door de stijgende productiekosten van chips wordt het testen van halfgeleiders steeds belangrijker, en neemt ook de vraag naar testprobes toe.
De vraag naar sondes neemt jaar na jaar toe.
In China kenmerkt de testsonde zich door een breed toepassingsgebied en diverse producttypen. Het is een onmisbaar onderdeel bij de detectie van elektronische componenten, micro-elektronica, geïntegreerde schakelingen en andere industrieën. Dankzij de snelle ontwikkeling van downstream-gebieden bevindt de sonde-industrie zich in een fase van snelle groei.
De gegevens tonen aan dat de vraag naar sondes in China in 2020 481 miljoen zal bereiken. In 2016 bedroeg het verkoopvolume van de Chinese sondemarkt 296 miljoen stuks, met een jaarlijkse groei van 14,93% in 2020 en 2019.
In 2016 bedroeg het verkoopvolume van de Chinese markt voor meetinstrumenten 1,656 miljard yuan, en in 2020 2,960 miljard yuan, een stijging van 17,15% ten opzichte van 2019.
Er bestaan veel verschillende soorten subsondes, afhankelijk van de toepassing. De meest gebruikte sondetypes zijn de elastische sonde, de cantileversonde en de verticale sonde.
Analyse van de structuur van de Chinese import van meetinstrumenten in 2020
Momenteel worden de wereldwijde markt voor halfgeleidertestprobes voornamelijk gedomineerd door Amerikaanse en Japanse bedrijven, en de high-end markt wordt vrijwel volledig beheerst door deze twee grote regio's.
In 2020 bedroeg de wereldwijde omzet van halfgeleidertestprobes 1,251 miljard dollar. Dit toont aan dat er enorm veel ruimte is voor de ontwikkeling van binnenlandse probes en dat de opkomst ervan dringend noodzakelijk is!
Sondes kunnen, afhankelijk van de toepassing, in verschillende typen worden onderverdeeld. De meest gebruikte typen zijn de elastische sonde, de cantileversonde en de verticale sonde.
Xinfucheng-testsonde
Xinfucheng zet zich al sinds jaar en dag in voor de ontwikkeling van de binnenlandse testsonde-industrie en blijft vasthouden aan onafhankelijk onderzoek en ontwikkeling van hoogwaardige testsondes, waarbij gebruik wordt gemaakt van geavanceerde materiaalstructuren, een efficiënte coatingbehandeling en een hoogwaardig assemblageproces.
De minimale afstand kan 0,20P bedragen. Diverse ontwerpen voor de bovenkant van de probe en de probe-structuur voldoen aan uiteenlopende verpakkings- en testvereisten.
Als essentieel onderdeel van een testopstelling voor geïntegreerde schakelingen, vereist een testopstelling tientallen, honderden of zelfs duizenden testprobes. Daarom heeft Xinfucheng veel onderzoek gedaan naar het structurele ontwerp, de materiaalsamenstelling, de productie en de fabricage van de probes.
We hebben het beste R&D-team uit de branche samengesteld, dat zich richt op het ontwerp en de ontwikkeling van meetprobes en dag en nacht zoekt naar manieren om de testnauwkeurigheid van de probes te verbeteren. De producten worden inmiddels met succes toegepast door vele grote en middelgrote bedrijven in binnen- en buitenland en leveren een bijdrage aan de Chinese halfgeleiderindustrie.
Geplaatst op: 31 oktober 2022
