Socket pogo pin (veerpin)

Producten op maat

Ervaring met de ontwikkeling van meer dan 6.000 maatwerkproducten.

Onze ervaren verkoopmedewerkers luisteren naar uw wensen en adviseren u over de beste pogopin (veerpin) die past bij uw formaat, vorm, specificaties en ontwerp.

Ons uitgebreide wereldwijde netwerk kan ondersteuning bieden in vrijwel alle fasen van het productontwikkelingsproces.

PCB11-landschap

PCB-testapplicatie

Pogo-pin (veerpin) voor het testen van kale printplaten en/of PCB's

Hier zie je Pogo Pins (veerpinnen) voor het testen van kale printplaten en PCB's. De standaardafstand varieert van 0,5 mm tot 3,0 mm.

CPU-testapplicatie

Pogo-pin (veerpin) voor halfgeleiders
Hier vindt u veerprobes die worden gebruikt voor testprocessen bij de productie van halfgeleiders. Een veerprobe is een probe met een veer erin en wordt ook wel dubbelzijdige probe of contactprobe genoemd. Deze wordt in een IC-socket gemonteerd en vormt een elektronisch pad dat de halfgeleider verticaal met de printplaat verbindt. Dankzij onze uitstekende bewerkingstechniek kunnen we veerprobes leveren met een lage contactweerstand en een lange levensduur. De "DP"-serie is onze standaardlijn veerprobes voor het testen van halfgeleiders.

CPU2-landschap
1671013776551-landschap

DDR-testarmatuurtoepassing

Productbeschrijving

De DDR-testopstelling kan worden gebruikt voor het testen en screenen van DDR-chips tot 3,2 GHz. GCR en testprobes zijn beschikbaar. Er wordt gebruik gemaakt van een speciale printplaat voor testen, waarbij de vergulde contactpunten en IC-pads vijf keer dikker zijn dan bij een gewone printplaat, wat zorgt voor een betere geleidbaarheid en slijtvastheid. Een zeer nauwkeurig metalen IC-positioneringsframe garandeert een nauwkeurige IC-positionering. Het ontwerp is compatibel met DDR4. Bij een upgrade van DDR3 naar DDR4 hoeft alleen de printplaat (PCBA) te worden vervangen.

ATE-testsockettoepassing

Productbeschrijving

Aanvragen voor verificatie, testen en inbranden van halfgeleiderproducten (DDR, EMMC, EMC CPU, NAND). Toepasselijke behuizingen: SOR LGA, QFR BGA, enz. Toepasselijke pitch: 0,2 mm en hoger. Specifieke eisen van klanten, zoals frequentie, stroom, impedantie, enz., en het leveren van een passende testoplossing.

ATE-Test-Socket1